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Top-X珠宝检测附件
Top-X珠宝检测附件
Top-X是一款基于傅立叶红外光谱仪的漫散射附件,红外光谱分析是珠宝玉石鉴定的主要方法之一。

特点

1. 上置式漫反射设计,检测更加便捷

2. 承重式样品台,可测量较大样品

3. 小巧灵活,可兼容不同品牌的光谱仪

4. 高光通量和出色的信噪比

5. 可测量各类珠宝:翡翠、钻石、和田玉、琥珀等

6. 可对粉末、固体和金属表面涂层进行分析



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