从 X 射线源收集 X 射线的大立体角，并将射线聚焦为小至 10 μm 的光斑。获得的 X 射线通量密度比用常规针孔准直器获得的高几个数量级。这些透镜器件的主要应用是微量 X 射线荧光 (XRF) 分析，广泛用于薄膜和电镀分析、贵金属评估、合金测量和电路板涂层监测。该透镜器件还可用于在诸如共焦 XRF 分析和超导能量色散 X 射线光谱仪等应用中进行检测。使用多毛细管聚焦透镜器件将显著提高检测灵敏度，并允许使用低功率 X 射线管实现高性能。微米级空间分辨率使之可应用于电子和贵金属小特性评估。多毛细管透镜器件提供100x-10,000x 的增益，输出焦点可小至 10 μm。
